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當前位置:首頁 >產品中心>土工儀器>粒度分析儀>TT-N9納(na)米(mi)激光粒度儀 

納米激光粒度儀

簡(jian)要描(miao)述(shu):納(na)米激光粒(li)度儀采用(yong)高速(su)數字相關(guan)器和專(zhuan)業的高性能光電倍增管作為核心器件,具有快速(su)、高分辨(bian)率、重復(fu)及準(zhun)確等特點,是納(na)米顆粒(li)粒(li)度測定(ding)的產(chan)品。

  • 產品型號:TT-N9
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-04-18
  • 訪(fang)  問  量:2031

詳細介紹

納米激光粒度儀采用高(gao)(gao)速數字相關(guan)器和專(zhuan)業的高(gao)(gao)性能光電倍增管作為(wei)核心器件,具有快速、高(gao)(gao)分辨率、重復及準(zhun)確等(deng)特點,是納米顆粒(li)粒(li)度測定的產品。

納米激光粒度儀主要性能特(te)點

先進的測試原理本儀(yi)器(qi)(qi)采用動(dong)(dong)(dong)態光(guang)散(san)射原理(li)和光(guang)子相關光(guang)譜技術,根據顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)在液體中的(de)(de)布朗(lang)運動(dong)(dong)(dong)的(de)(de)速度(du)測(ce)定顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)大(da)小(xiao)。小(xiao)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)布朗(lang)運動(dong)(dong)(dong)速度(du)快,大(da)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)布朗(lang)運動(dong)(dong)(dong)速度(du)慢(man),激(ji)(ji)光(guang)照射這些顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li),不同(tong)大(da)小(xiao)的(de)(de)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)將(jiang)使散(san)射光(guang)發(fa)生快慢(man)不同(tong)的(de)(de)漲落起伏(fu)。光(guang)子相關光(guang)譜法(fa)就(jiu)根據特(te)定方(fang)向的(de)(de)光(guang)子漲落起伏(fu)分析(xi)其顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)大(da)小(xiao)。因此本儀(yi)器(qi)(qi)具有(you)原理(li)先(xian)進(jin)、精度(du)*的(de)(de)特(te)點,從而(er)保(bao)證了(le)測(ce)試(shi)結果的(de)(de)真實性(xing)和有(you)效(xiao)性(xing);是納(na)米激(ji)(ji)顆(ke)(ke)粒(li)(li)(li)粒(li)(li)(li)度(du)測(ce)定的(de)(de)儀(yi)器(qi)(qi)。

高靈敏度與信噪(zao)比:本儀器的探(tan)測(ce)器采用專業級高性(xing)能(neng)光(guang)電倍增管(guan)(PMT),對光(guang)子信號具有*的靈敏度(du)和(he)信噪比(bi),從(cong)而保證了(le)測(ce)試結果的準確度(du);

*的分(fen)辨(bian)能(neng)力(li)和*的運算(suan)功能(neng):使用 PCS 技術測定(ding)納(na)米級(ji)顆粒大小(xiao),必(bi)須能(neng)夠分(fen)辨(bian)納(na)秒級(ji)信號(hao)起伏。本儀器(qi)的(de)核心(xin)部件(jian)采用集(ji)成電(dian)路 ASIC 研制的(de)高(gao)速光子相(xiang)關(guan)器(qi),具有識別 6ns的(de)*分(fen)辨(bian)能(neng)力和(he)*的(de)信號(hao)處(chu)理(li)速度,可(ke)快速實時的(de)采集(ji)光子數并(bing)計算(suan)相(xiang)關(guan)運算(suan),我測試尊確(que)定(ding)奠(dian)定(ding)基(ji)礎(chu)。

穩定的光(guang)路(lu)系統(tong):采用短波長 LD 泵浦激光(guang)(guang)光(guang)(guang)源和光(guang)(guang)纖技術搭建而(er)成的光(guang)(guang)路系統(tong),使光(guang)(guang)子相關探測系統(tong)不(bu)僅(jin)體積小,而(er)且具有很強的抗干擾能力,從而(er)保(bao)證(zheng)了測試的穩定性(xing)。

高精度(du)溫控系統:樣品池溫(wen)控系(xi)統和(he)激(ji)光(guang)器溫(wen)控系(xi)統精度高達±0.1℃,使被測(ce)樣品和(he)激光器(qi)光源(yuan)在整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中都處于(yu)恒溫(wen)狀態,避(bi)免溫(wen)度變(bian)化對不測(ce)試結果的影響,確保測(ce)試準確和(he)重復(fu);

*功能的分析軟(ruan)件(jian):分析軟件中反演算法采(cai)用標準(zhun)推薦的(de)累計(ji)量法以(yi)及目(mu)前比較通用非(fei)負二乘法(NNLS)和(he) Contin 等多(duo)種算法,其測試結果與(yu)的(de)同(tong)類產品具(ju)有很好的(de)一致性;

納米粒(li)度儀技術參數及(ji)詳(xiang)細配置

執行標(biao)準

GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008

測試范圍

1-10000nm(與樣(yang)品有關)

濃度范(fan)圍

0.1mg/L-100mg/L

準確度誤差

<1%(國家(jia)標準(zhun)樣品平均粒徑(jing))

重復性(xing)誤(wu)差

<1%(國家標(biao)準樣品平均粒徑)

激光

λ=532nm,LD 泵浦激(ji)光器(*帶溫控保護)

探測器(qi)

HAMAMATSU 光電(dian)倍增管(PMT),使用單(dan)模保偏光纖(xian)

散射(she)角

90°

數字相關(guan)器(qi)

ASIC 研制的(de)高速光(guang)子相關器

樣品池

10mm*10mm , 4ml(帶溫控(kong)保護)

數據處理

優(you)擬(ni)合累積分析(xi)法和改進正規化(hua)算法,可給出平(ping)均(jun)粒徑及

粒度分布曲線

軟(ruan)件功(gong)能

一鍵式測(ce)量(liang),自動優化測(ce)量(liang)參數,輕松生成測(ce)試報(bao)表(biao)

輸(shu)出項目

平(ping)均粒徑、多分(fen)散系數(shu)、粒度分(fen)布(bu)曲(qu)線(xian)、粒度分(fen)布(bu)表(biao)等

溫度范圍(wei)

8-45℃(溫度精確到 0.1℃)

測試速度

<1Min/次(ci)(不含樣品分(fen)散時間)

儀(yi)器體積

390mm×255mm×240mm

電源(yuan)

AC100~260V, 50/60Hz, 功率 80W

使用(yong)環境

溫度:15~40℃,濕(shi)度 20~70%。無冷(leng)凝

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